高压电容器-电容器试验中存在的技术问题

发布时间:2020-12-25 分享到:

(1) 对于开焊、虚焊的问题,测量绝缘电阻不能反映问题, 因为裂缝在高电压下会击穿放电,电力电容器仍然呈现正常的充放电现象,而使用输出电压很低的电容表, 更能发现电容量的变化;

(2) 对于由多个元件串联的电力电容器,即使大部分元件绝缘电阻已经降为零,只要有一个电容元件的绝缘电阻合格,测量出来的绝缘电阻仍然是合格的, 但电容量和介质损耗可能会明显增加;

(3) 有些电力电容元件击穿后,极板间仍有一定的绝缘电阻,这时如果用低电压测量电容量,由于击穿点保持绝缘状态,所测量的电容量还是正常的,只有提高试验电压才能使故障点重新击穿。

(4) 多元件电力电容器,总体tgδ很难发现个别元件的缺陷;

(5) 个别元件不完全击穿、绝缘电阻下降、引线虚焊或接触不良都会造成介质损耗增加,

主要区别是:

a. 个别元件不完全击穿及引线虚焊时通常整体绝缘电阻并不下降;

b. 个别元件未完全击穿时随着试验电压的提高逐渐形成完全击穿,介损值可能会逐渐下降到正常范围,而且整体电容量增加;

c. 元件引线虚焊时,介损值也会随电压升高而下降,但电容量不会增加。

(6) 绝缘电阻对介损的影响与电容器的电容量有关,电容量越小影响越大。

以上说明,电容器试验中介质损耗、绝缘电阻、电容量都是重要的判断数据。当对试验结果有疑问时,应进行综合分析和判断。

上一篇:电力电容器-电容器型号BAM与BFM的区别

下一篇:电力电容器-欠补与过补会出现什么情况