（1） 对于开焊、虚焊的问题，测量绝缘电阻不能反映问题， 因为裂缝在高电压下会击穿放电，电力电容器仍然呈现正常的充放电现象，而使用输出电压很低的电容表， 更能发现电容量的变化；

（2） 对于由多个元件串联的电力电容器，即使大部分元件绝缘电阻已经降为零，只要有一个电容元件的绝缘电阻合格，测量出来的绝缘电阻仍然是合格的， 但电容量和介质损耗可能会明显增加；

（3） 有些电力电容元件击穿后，极板间仍有一定的绝缘电阻，这时如果用低电压测量电容量，由于击穿点保持绝缘状态，所测量的电容量还是正常的，只有提高试验电压才能使故障点重新击穿。

（4） 多元件电力电容器，总体tgδ很难发现个别元件的缺陷；

（5） 个别元件不完全击穿、绝缘电阻下降、引线虚焊或接触不良都会造成介质损耗增加，

主要区别是：

a. 个别元件不完全击穿及引线虚焊时通常整体绝缘电阻并不下降；

b. 个别元件未完全击穿时随着试验电压的提高逐渐形成完全击穿，介损值可能会逐渐下降到正常范围，而且整体电容量增加；

c. 元件引线虚焊时，介损值也会随电压升高而下降，但电容量不会增加。

（6） 绝缘电阻对介损的影响与电容器的电容量有关，电容量越小影响越大。

以上说明，电容器试验中介质损耗、绝缘电阻、电容量都是重要的判断数据。当对试验结果有疑问时，应进行综合分析和判断。